IEC 61988-2-2:2003
Paneles de visualización de plasma - Parte 2-2: Métodos de medición; Optoeléctrico
- Estándar No.
- IEC 61988-2-2:2003
- Fecha de publicación
- 2003
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Estado
- Ultima versión
- IEC 61988-2-2:2003
- Remplazado por
- IEC 61988-2-1:2012
- Alcance
- Esta parte de IEC 61988 determina los siguientes métodos de medición para caracterizar el rendimiento de los módulos de pantalla de plasma en color: a) relación de contraste en una habitación luminosa; b) potencia del módulo y consumo de corriente; c) eficacia luminosa del módulo.
IEC 61988-2-2:2003 Historia
- 2003 IEC 61988-2-2:2003 Paneles de visualización de plasma - Parte 2-2: Métodos de medición; Optoeléctrico
IEC 61988-2-2:2003 Paneles de visualización de plasma - Parte 2-2: Métodos de medición; Optoeléctrico ha sido cambiado a IEC 61988-2-1:2012 Paneles de visualización de plasma - Parte 2-1: Métodos de medición - Ópticos y optoeléctricos.
