JIS Z 9003:1979
Planes de inspección por muestreo único que tengan las características operativas deseadas por variables (desviación estándar conocida)

Estándar No.
JIS Z 9003:1979
Fecha de publicación
1979
Organización
Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
Ultima versión
JIS Z 9003:1979
 

Alcance
Esta norma especifica cómo determinar e implementar métodos de inspección de muestreo único de tipo estándar metrológico al garantizar el valor promedio de un lote con una desviación estándar conocida y al garantizar la tasa de defectos de un lote con una desviación estándar conocida.

JIS Z 9003:1979 Historia

  • 1979 JIS Z 9003:1979 Planes de inspección por muestreo único que tengan las características operativas deseadas por variables (desviación estándar conocida)
Planes de inspección por muestreo único que tengan las características operativas deseadas por variables (desviación estándar conocida)

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