CSN 35 8753-1970 Transistores. Método de medición de la admitancia de entrada de cortocircuito en la configuración de emisor común a frecuencias más altas
Procesador: Tesla Ro?nov, np, Ro?nov pod Radho?těm — Ing. V. Sehnalík Miembro del equipo de estandarización y medición: Ing. V.promedio
CSN 35 8753-1970 Historia
1970CSN 35 8753-1970 Transistores. Método de medición de la admitancia de entrada de cortocircuito en la configuración de emisor común a frecuencias más altas