IS 4400 Pt.10-1983
MÉTODOS DE MEDIDAS EN DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES PARTE 10 TRANSISTORES DE EFECTO DE CAMPO

Estándar No.

IS 4400 Pt.10-1983

Fecha de publicación

1983

Organización

IN-BIS

Ultima versión

IS 4400 Pt.10-1983

Alcance

Esta norma (Parte 10) cubre los métodos de medición en transistores de efecto de campo (FET).

IS 4400 Pt.10-1983 Historia

• 1983 IS 4400 Pt.10-1983 MÉTODOS DE MEDIDAS EN DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES PARTE 10 TRANSISTORES DE EFECTO DE CAMPO