IS 12970 Pt.3/Sec.3-1993
DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES: CIRCUITOS INTEGRADOS PARTE 3 CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES: MÉTODOS DE MEDICIÓN Sección 3 Mediciones dinámicas

Estándar No.
IS 12970 Pt.3/Sec.3-1993
Fecha de publicación
1993
Organización
IN-BIS
 
Alcance
Esta norma (Parte 3/Sec 3) cubre las mediciones dinámicas para circuitos integrados digitales.

estándares y especificaciones

IEC 60748-3/AMD2/COR1:1996 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 3: circuitos integrados analógicos; enmienda 2 NF C96-042:1989 Dispositivos semiconductores Circuitos integrados Parte 2: Circuitos integrados digitales IEC 60748-2-9:1994 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 2: Circuitos integrados digitales; Sección 9: Especificación detallada en blanco para memorias de solo IS 12970 Pt.3/Sec.1-1992 DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES — CIRCUITOS INTEGRADOS PARTE 3 CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES — MÉTODOS DE MEDICIÓN Sección 1 Generalidades IEC 60748-2-11:1999 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 2-11: Circuitos integrados digitales - Especificación detallada en blanco para circuito integrado DS/IEC 748-11/A1,2:2001 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 11: Especificaciones seccionales para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos DS/IEC 748-11:1992 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 11: Especificación de la sección para circuitos integrados de semiconductores, excluidos los circuitos GSO IEC 60748-4-1:2013 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 4: Circuitos integrados de interfaz - Sección 1: Especificación detallada en blanco IS 12970 Pt.6/Sec.3-1992 DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES — CIRCUITOS INTEGRADOS PARTE 6 CIRCUITOS INTEGRADOS ANALÓGICOS MÉTODOS DE MEDICIÓN Sección 3 Reguladores de voltaje


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