IS 12970 Pt.3/Sec.3-1993
DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES: CIRCUITOS INTEGRADOS PARTE 3 CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES: MÉTODOS DE MEDICIÓN Sección 3 Mediciones dinámicas

Estándar No.

IS 12970 Pt.3/Sec.3-1993

Fecha de publicación

1993

Organización

IN-BIS

Alcance

Esta norma (Parte 3/Sec 3) cubre las mediciones dinámicas para circuitos integrados digitales.