1.1 Esta norma (Parte II) cubre métodos de medición en diodos de señal de baja potencia para las características cubiertas por IS: 3700 (Parte II)-1967〓. 1.1.1 Estos diodos no participan en la transformación de una cantidad sustancial de energía, pero se utilizan en el procesamiento de señales electrónicas.
IS 4400 Pt.2-1967 Historia
1968IS 4400 Pt.2-1967 MÉTODOS DE MEDIDAS EN DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES PARTE Ⅱ DIODOS DE SEÑAL DE BAJA POTENCIA