KS C 6045-1986
MÉTODOS DE PRUEBA PARA DIODOS RECTIFICADORES SEMICONDUCTOR

Estándar No.

KS C 6045-1986

Fecha de publicación

1986

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C 6045-1991(2001)

Ultima versión

KS C 6045-1991(2001)

KS C 6045-1986 Historia

• 0000 KS C 6045-1991(2001)
• 1986 KS C 6045-1986 MÉTODOS DE PRUEBA PARA DIODOS RECTIFICADORES SEMICONDUCTOR