DIN EN 60749-5:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de temperatura y humedad en estado estacionario (IEC 60749-5:2003); Versión alemana EN 60749-5:2003
- Estándar No.
- DIN EN 60749-5:2003
- Fecha de publicación
- 2003
- Organización
- German Institute for Standardization
- Estado
- Remplazado por
- DIN EN 60749-5:2018
- DIN EN 60749-5 E:2016-12
- Ultima versión
- DIN EN 60749-5:2018
- DIN EN 60749-5:2018-01
- Reemplazar
- DIN EN 60749:2002 DIN EN 60749-5:2002
- Alcance
- Esta parte de DIN EN 60749 proporciona una prueba de vida útil de polarización de temperatura y humedad en estado estacionario con el fin de evaluar la confiabilidad de dispositivos de estado sólido empaquetados no herméticos en ambientes húmedos.
DIN EN 60749-5:2003 Historia
- 0000 DIN EN 60749-5:2018
- 2003 DIN EN 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de temperatura y humedad en estado estacionario (IEC 60749-5:2003); Versión alemana EN 60749-5:2003
- 0000 DIN EN 60749-5:2002
