DIN EN 60749-17:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones (IEC 60749-17:2003); Versión alemana EN 60749-17:2003

Estándar No.
DIN EN 60749-17:2003
Fecha de publicación
2003
Organización
German Institute for Standardization
Estado
Remplazado por
DIN EN 60749-17 E:2018
Ultima versión
DIN EN 60749-17:2018-07
Reemplazar
DIN EN 60749-17:2002
 
Alcance
La prueba de irradiación de neutrones se realiza para determinar la susceptibilidad de los dispositivos semiconductores a la degradación en el entorno de neutrones. Las pruebas aquí descritas son aplicables a circuitos integrados y dispositivos semiconductores discretos. Esta prueba está destinada a aplicaciones militares y espaciales. Es una prueba destructiva.

DIN EN 60749-17:2003 Historia

  • 2018 DIN EN 60749-17:2018-07 Proyecto de documento - Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 17: Irradiación de neutrones (IEC 47/2465/CDV:2018); versión en alemán e inglés prEN 60749-17:2018
  • 2018 DIN EN 60749-17 E:2018 Borrador de documento - Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 17: Irradiación de neutrones (IEC 47/2465/CDV:2018); Versión alemana e inglesa prEN 60749-17:2018
  • 2003 DIN EN 60749-17:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones (IEC 60749-17:2003); Versión alemana EN 60749-17:2003
  • 0000 DIN EN 60749-17:2002
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones (IEC 60749-17:2003); Versión alemana EN 60749-17:2003

estándares y especificaciones

BS EN IEC 60749-17:2019 Cambios rastreados. Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Irradiación de neutrones DIN EN IEC 60749-17:2019-11*VDE 0884-749-17:2019-11 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos BS EN IEC 60749-39:2022 Cambios rastreados. Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Medición de la difusividad de la humedad y la solubilidad en agua IEC 60749-10:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico IEC 60749-8:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 8: Sellado IEC 60749-9:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado IEC 60749-13:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina IEC 60749-22:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 22: Fuerza de unión IEC 60749-2:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 2: Baja presión de aire


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