BS EN 61000-4-20:2003 Compatibilidad electromagnética (EMC). Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición. Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM). normas y especificaciones

Alcance: Esta parte de IEC 61000 se relaciona con métodos de prueba de emisión e inmunidad para equipos eléctricos y electrónicos que utilizan varios tipos de guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM). Esto incluye estructuras abiertas (por ejemplo, líneas de corte y simuladores EMP) y cerradas (por ejemplo, células TEM), que pueden clasificarse además como guías de ondas TEM de uno, dos o múltiples puertos. El rango de frecuencia depende de los requisitos de prueba específicos y del tipo de guía de ondas TEM específico. El objeto de esta norma es describir ? Características de la guía de ondas TEM, incluidos rangos de frecuencia típicos y limitaciones de tamaño de EUT; ? métodos de validación de guías de ondas TEM para mediciones de EMC; ? la definición de EUT (es decir, gabinete y cableado de EUT); ? configuraciones de prueba, procedimientos y requisitos para pruebas de emisiones radiadas en guías de ondas TEM y ? Configuraciones de prueba, procedimientos y requisitos para pruebas de inmunidad radiada en guías de ondas TEM.

BS EN 61000-4-20:2003 Historia

2011 BS EN 61000-4-20:2011 Compatibilidad electromagnética (CEM). Técnicas de ensayo y medición. Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)
2011 BS EN 61000-4-20:2010 Compatibilidad electromagnética (CEM). Técnicas de ensayo y medición. Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)
2003 BS EN 61000-4-20:2003 Compatibilidad electromagnética (EMC). Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición. Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM).