Esta norma es aplicable a osciloscopios analógicos y voltímetros de pico utilizados para mediciones durante pruebas con altos voltajes de impulso y altas corrientes de impulso. Cubre las características y calibraciones específicas requeridas para cumplir con las precisiones de medición especificadas en la Publicación IEC 60-3: Técnicas de prueba de alto voltaje, Parte 3: Dispositivos de medición. No cubre los requisitos generales de los instrumentos porque se tratan en la Publicación IEC 351-1: Expresión de las propiedades de los osciloscopios de rayos catódicos y en la Publicación IEC 359: Expresión del rendimiento funcional de los equipos de medición electrónicos.
SIS SS IEC 790:1989 Historia
1989SIS SS IEC 790:1989 Técnica de prueba de alto voltaje: osciloscopios y voltímetros de pico para pruebas de impulso