SR CEI 748-11-1-1992
Dispositivos semiconductores Circuitos integrados Parte 11: Sección 1: Examen visual internacional de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos

Estándar No.

SR CEI 748-11-1-1992

Fecha de publicación

1992

Organización

RO-ASRO

Ultima versión

SR CEI 748-11-1-1992

Alcance

El objetivo de estas pruebas es verificar la conformidad de los materiales internos, la construcción y la calidad de ejecución de los circuitos integrados con los requisitos de la especificación aplicable. ¿Se utilizan estas pruebas? Normalmente antes de la tapa o tapa.

SR CEI 748-11-1-1992 Historia

• 1992 SR CEI 748-11-1-1992 Dispositivos semiconductores Circuitos integrados Parte 11: Sección 1: Examen visual internacional de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos