JJG 21-2008 (Versión en inglés)

Estándar No.: JJG 21-2008
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2008
Organización: National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China
Ultima versión: JJG 21-2008
Reemplazar: JJG 21-1995

Alcance: Este procedimiento es aplicable a micrómetros de diámetro externo con un valor de graduación de 0.Olmm y un límite superior de medición de 500 mm; micrómetros de espesor de placa y espesor de pared con un límite superior de medición de 25 mm; y micrómetros digitales con una resolución de 0.OOlmm, 0.0001. mm y un límite superior de medición de 500 mm.Calibración inicial, calibración posterior e inspección en servicio de micrómetros que muestran el diámetro exterior.

JJG 21-2008 Documento de referencia

GB/T 1216-2004 micrómetro externo
GB/T 20919-2007 Micrómetro externo con pantalla digital electrónica.
JB/T 2989-1999 Micrómetro de chapa
JJF 1001-1998 Términos generales en metrología y sus definiciones
JJF 1059-1999 Evaluación y expresión de la incertidumbre en la medición.
JJF 1094-2002 TS para la evaluación de las características de los instrumentos de medida.*， 2023-12-08 Actualizar