DIN EN 60749-8:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 8: Sellado (IEC 60749-8:2002 + Corr. 1:2003 + Corr. 2:2003); Versión alemana EN 60749-8:2003

Estándar No.

DIN EN 60749-8:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

German Institute for Standardization

Estado

Remplazado por

DIN EN 60749-8:2003-12

Ultima versión

DIN EN 60749-8:2003-12

Reemplazar

DIN EN 60749:2002

Alcance

El proyecto es aplicable a dispositivos semiconductores (dispositivos discretos y circuitos integrados). El objetivo de este método de prueba es determinar la tasa de fuga de dispositivos semiconductores.

DIN EN 60749-8:2003 Historia

• 0000 DIN EN 60749-3:2018
• 2003 DIN EN 60749-3:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 3: Inspección visual externa (IEC 60749-3:2002); Versión alemana EN 60749-3:2002
• 0000 DIN EN 60749:2002