GB/T 19403.1-2003
Circuitos integrados de dispositivos semiconductores Parte 11: Sección 1: Examen visual interno de circuitos integrados semiconductores (excluidos los circuitos híbridos) (Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 19403.1-2003
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2003
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Ultima versión
- GB/T 19403.1-2003
- Alcance
- El propósito de la inspección visual interna es inspeccionar los materiales internos, la estructura y el proceso del circuito integrado, y verificar la coherencia con los requisitos de especificación aplicables. Por lo general, se debe realizar una inspección visual interna del dispositivo al 100% antes de taparlo o sellarlo. Encontrar defectos internos que puedan provocar que el dispositivo falle en un uso normal y rechazar el dispositivo correspondiente. Esta prueba también se puede utilizar a modo de muestreo antes de la limitación para determinar la eficacia del control de calidad y los procedimientos operativos del fabricante para dispositivos semiconductores.
GB/T 19403.1-2003 Historia
- 2003 GB/T 19403.1-2003 Circuitos integrados de dispositivos semiconductores Parte 11: Sección 1: Examen visual interno de circuitos integrados semiconductores (excluidos los circuitos híbridos)
