DIN 51096:2008
Ensayos de materias primas y básicas cerámicas: determinación directa de fracciones de masa de impurezas en polvos y gránulos de carburo de silicio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP OES) y vaporización electrotérmica (ETV).
- Estándar No.
- DIN 51096:2008
- Fecha de publicación
- 2008
- Organización
- German Institute for Standardization
- Estado
- Remplazado por
- DIN EN 15991:2011
- Ultima versión
- DIN EN 15991:2016
DIN 51096:2008 Historia
- 2016 DIN EN 15991:2016 Ensayos de materiales cerámicos y básicos - Determinación directa de fracciones de masa de impurezas en polvos y gránulos de carburo de silicio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP OES) con vaporización electrotérmica (ETV); alemán v
- 2011 DIN EN 15991:2011 Ensayos de materiales cerámicos y básicos - Determinación directa de fracciones de masa de impurezas en polvos y gránulos de carburo de silicio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP OES) con vaporización electrotérmica (ETV); alemán v
- 2008 DIN 51096:2008 Ensayos de materias primas y básicas cerámicas: determinación directa de fracciones de masa de impurezas en polvos y gránulos de carburo de silicio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP OES) y vaporización electrotérmica (ETV).
