International Organization for Standardization (ISO)
Ultima versión
ISO 11877:2008
Alcance
Esta norma internacional especifica un método fotométrico que se utilizará para la determinación de la fracción de masa de silicio en el rango de 20 IJg/g a 300 IJg/g en polvos de metal cobalto.
ISO 11877:2008 Historia
2008ISO 11877:2008 Metales duros - Determinación de silicio en polvos de metal de cobalto - Método fotométrico