ISO/TS 13473-4:2008
Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 4: Análisis espectral de perfiles de superficie.
- Estándar No.
- ISO/TS 13473-4:2008
- Fecha de publicación
- 2008
- Organización
- International Organization for Standardization (ISO)
- Ultima versión
- ISO/TS 13473-4:2008
- Alcance
- ISO/TS 13473-4:2008 describe los métodos disponibles para realizar un análisis espectral de señales del perfil de la superficie del pavimento. Especifica tres métodos posibles para el análisis de frecuencia espacial (o análisis de longitud de onda de textura) de perfiles de superficie bidimensionales que describen la amplitud de la rugosidad del pavimento en función de la distancia a lo largo de una trayectoria recta o curva sobre el pavimento. El resultado del análisis de frecuencia será un espectro de frecuencia espacial (o longitud de onda de textura) en bandas de ancho de banda de porcentaje constante de octava o un tercio de octava. ISO/TS 13473-4:2008 ofrece tres métodos alternativos para obtener estos espectros: 1) filtrado analógico de ancho de banda de porcentaje constante; 2) filtrado digital de ancho de banda de porcentaje constante; 3) análisis de frecuencia de ancho de banda estrecho constante mediante transformada discreta de Fourier, seguido de una transformación del espectro de banda estrecha a un espectro de banda de octava o de un tercio de octava. El objetivo de ISO/TS 13473-4:2008 es estandarizar la caracterización espectral de los perfiles de la superficie del pavimento. Este objetivo se persigue proporcionando una descripción detallada de los métodos de análisis y requisitos relacionados para quienes participan en la caracterización de pavimentos, pero no están familiarizados con los principios generales del análisis de frecuencia de señales aleatorias. Estos métodos y requisitos son generalmente aplicables a todo tipo de señales aleatorias.
ISO/TS 13473-4:2008 Historia
- 2008 ISO/TS 13473-4:2008 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 4: Análisis espectral de perfiles de superficie.
