1.1 Esta práctica cubre las condiciones para la inspección visual no destructiva del acabado superficial de alambres de aluminio y oro en bobina utilizados para realizar conexiones de dispositivos semiconductores internos y conexiones microelectrónicas híbridas. 1.2 Esta práctica especifica la iluminación, el aumento y la posición de la muestra recomendados para inspeccionar alambres en bobina bajo una microscopio óptico.1.3 Las fotografías (Figs. X1-X1.5) se incluyen en el Apéndice X1 como guías para ayudar al inspector a identificar condiciones particulares de la superficie. Estas fotografías no pretenden ser estándares para especificar la calidad de la superficie del alambre. 1.4 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse como estándar. Los valores dados entre paréntesis son solo para información. 1.5 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM F584-87(2005) Historia
2006ASTM F584-06e1 Práctica estándar para la inspección visual de cables semiconductores
2006ASTM F584-06 Práctica estándar para la inspección visual de cables semiconductores
1987ASTM F584-87(2005) Práctica estándar para la inspección visual de cables semiconductores
1999ASTM F584-87(1999) Práctica estándar para la inspección visual de cables semiconductores