1.1 Esta práctica describe los componentes de un espectrómetro de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente que son básicos para su operación y la calidad de su desempeño. No es la intención de esta práctica especificar tolerancias de componentes o criterios de desempeño, ya que son únicos para cada instrumento. Sin embargo, la práctica intenta identificar factores críticos que afectan la exactitud, la precisión y la sensibilidad. Un posible usuario debe consultar con el proveedor antes de realizar un pedido para diseñar un protocolo de prueba que demuestre que el instrumento satisface todas las necesidades previstas. Para obtener información más detallada, consulte una publicación de Haas, Knisely, Winge y Fassel. 1.2 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso. Las declaraciones de peligros de seguridad específicas se dan en la Sección 9.
ASTM E1479-99 Historia
2016ASTM E1479-16 Práctica estándar para describir y especificar espectrómetros de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
1999ASTM E1479-99(2011) Práctica estándar para describir y especificar espectrómetros de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
1999ASTM E1479-99(2005) Práctica estándar para describir y especificar espectrómetros de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
1999ASTM E1479-99 Práctica estándar para describir y especificar espectrómetros de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente