ASTM D4780-95
Método de prueba estándar para la determinación de la superficie baja de catalizadores mediante adsorción multipunto de criptón

Estándar No.
ASTM D4780-95
Fecha de publicación
1995
Organización
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Estado
Remplazado por
ASTM D4780-95(2001)
Ultima versión
ASTM D4780-12(2017)e1
Alcance
1.1 Este método de prueba cubre la determinación del área de superficie específica de catalizadores y portadores de catalizadores en el rango de 0,05 a 10 m2/g. Se utiliza un sistema de medición volumétrico para obtener al menos tres puntos de datos que se encuentran dentro de la región lineal BET. 1.2 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hubiera, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM D4780-95 Historia

  • 2017 ASTM D4780-12(2017)e1 Método de prueba estándar para la determinación del área superficial baja de catalizadores y portadores de catalizadores mediante adsorción multipunto de criptón
  • 2012 ASTM D4780-12 Método de prueba estándar para la determinación del área superficial baja de catalizadores y portadores de catalizadores mediante adsorción multipunto de criptón
  • 1995 ASTM D4780-95(2007) Método de prueba estándar para la determinación de la superficie baja de catalizadores mediante adsorción multipunto de criptón
  • 1995 ASTM D4780-95(2001) Método de prueba estándar para la determinación de la superficie baja de catalizadores mediante adsorción multipunto de criptón
  • 1995 ASTM D4780-95 Método de prueba estándar para la determinación de la superficie baja de catalizadores mediante adsorción multipunto de criptón



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