1.1 Esta práctica establece requisitos para garantizar la coherencia en las pruebas de daños por desplazamiento inducido por neutrones de piezas electrónicas de silicio y arseniuro de galio. Esto requiere controles en las instalaciones, la dosimetría, los probadores y los procesos de comunicaciones que afectan la precisión y reproducibilidad de estas pruebas. Proporciona información general sobre la base técnica de los requisitos y recomendaciones adicionales sobre pruebas de neutrones. Además de los neutrones, los reactores se utilizan para proporcionar pulsos de rayos gamma de intensidades y duraciones que no se pueden lograr en otros lugares. Esta práctica también proporciona información general y recomendaciones sobre pruebas de rayos gamma de productos electrónicos utilizando reactores nucleares. 1.2 Se presentan métodos para garantizar y validar la coherencia en las pruebas de daños por desplazamiento de neutrones de piezas electrónicas como circuitos integrados, transistores y diodos. Los problemas identificados y los controles establecidos en esta práctica abordan la caracterización y la idoneidad de los entornos de radiación. Generalmente se aplican a reactores y fuentes de neutrones de 14 MeV cuando se utilizan para pruebas de daños por desplazamiento, y se aplican a pruebas de 252 Cf cuando esta fuente se utiliza para esta aplicación. Se identifican las características de las instalaciones y el entorno que introducen complicaciones o problemas y se ofrecen recomendaciones sobre cómo se pueden reconocer, minimizar o resolver los problemas. Esta práctica puede ser utilizada por usuarios de instalaciones, personal de pruebas, operadores de instalaciones y validadores de procesos independientes para determinar la idoneidad de un entorno específico dentro de una instalación y del proceso de prueba en su conjunto, con excepción de las mediciones eléctricas, que se abordan. en otras normas. Se puede encontrar información adicional sobre la conducción de irradiaciones en las Prácticas E 798 y F 1190. Esta práctica también puede ser útil para los patrocinadores de pruebas (es decir, organizaciones que establecen especificaciones de prueba o que de otro modo tienen un interés personal en el rendimiento de la electrónica en entornos de neutrones). .1.3 En esta práctica se analizan los métodos para la evaluación y el control de los contribuyentes no deseados al daño y se proporcionan referencias a las normas ASTM e informes técnicos pertinentes. Los procesos y métodos utilizados para llegar a los entornos de prueba y niveles de especificación apropiados para los sistemas electrónicos están más allá del alcance de esta práctica; sin embargo, el proceso para determinar las especificaciones de desplazamiento equivalente de 1 MeV a partir de espectros de neutrones del entorno operativo debe emplear los métodos y parámetros descritos en este documento. Algunas consideraciones importantes se abordan en (Información no obligatoria). Esta norma no pretende abordar todas las preocupaciones de seguridad, si las hay, asociadas con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM E1854-07 Historia
2019ASTM E1854-19 Práctica estándar para garantizar la coherencia de las pruebas en daños por desplazamiento de neutrones de piezas electrónicas
2013ASTM E1854-13 Práctica estándar para garantizar la coherencia de las pruebas en daños por desplazamiento de neutrones de piezas electrónicas
2007ASTM E1854-07 Práctica estándar para garantizar la coherencia de las pruebas en daños por desplazamiento de neutrones de piezas electrónicas
2005ASTM E1854-05 Práctica estándar para garantizar la coherencia de las pruebas en daños por desplazamiento de neutrones de piezas electrónicas
2003ASTM E1854-03 Práctica estándar para garantizar la coherencia de las pruebas en daños por desplazamiento de neutrones de piezas electrónicas
1996ASTM E1854-96 Práctica estándar para garantizar la coherencia de las pruebas en daños por desplazamiento de neutrones de piezas electrónicas