La preparación y el montaje adecuados de las muestras son particularmente críticos para el análisis de superficies. La preparación inadecuada de las muestras puede provocar alteraciones de la composición de la superficie y datos poco fiables. Las muestras deben manipularse con cuidado para evitar la introducción de contaminantes espurios en el proceso de preparación y montaje. El objetivo debe ser preservar el estado de la superficie para que el análisis siga siendo representativo del original. La espectroscopia de electrones Auger (AES), la espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS o ESCA) y la espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS) son sensibles a las capas superficiales que suelen tener unos pocos nanómetros (nm) de espesor. Estas capas delgadas pueden estar sujetas a perturbaciones severas causadas por la manipulación de la muestra (1)3 o tratamientos superficiales que pueden ser necesarios antes de su introducción en la cámara analítica. Además, las técnicas de montaje de muestras tienen el potencial de afectar el análisis previsto. Esta guía describe los métodos que el analista de superficies puede necesitar para minimizar los efectos de la preparación de la muestra cuando utiliza cualquier técnica analítica sensible a la superficie. También se describen métodos para montar muestras para garantizar que la información deseada no se vea comprometida. La Guía E 1829 describe el manejo de muestras sensibles a las superficies y, como tal, complementa esta guía. 1.1 Esta guía cubre la preparación y el montaje de las muestras antes, durante y después del análisis de superficies y se aplica a las siguientes disciplinas de análisis de superficies: 1.1.1 Electrónica de barrena espectroscopia (AES), 1.1.2 espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS y ESCA) y 1.1.3 espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS). 1.1.4 Aunque están escritos principalmente para AES, XPS y SIMS, estos métodos también se aplicarán a muchos métodos de análisis sensibles a la superficie, como la espectrometría de dispersión de iones, la difracción de electrones de baja energía y la espectroscopia de pérdida de energía de los electrones, donde la manipulación de muestras puede influir en las mediciones sensibles a la superficie.1.2 Esta norma no pretende abordar todas las preocupaciones de seguridad, si las hubiera, asociado a su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM E1078-02 Historia
2020ASTM E1078-14(2020) Guía estándar para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies
2014ASTM E1078-14 Guía estándar para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies
2009ASTM E1078-09 Guía estándar para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies
2002ASTM E1078-02 Guía estándar para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies
1997ASTM E1078-97 Guía estándar de procedimientos para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies