ASTM E673-02a
Terminología estándar relacionada con el análisis de superficies

Estándar No.

ASTM E673-02a

Fecha de publicación

2002

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

Remplazado por

ASTM E673-02b

Ultima versión

ASTM E673-03

Alcance

1.1 Esta terminología está relacionada con las diversas disciplinas involucradas en el análisis de superficies.1.2 Las definiciones enumeradas se aplican a (a) espectroscopia de electrones Auger (AES), (b) espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS), (c) espectroscopia de dispersión de iones ( ISS), (d) espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS) y (e) análisis de iones energéticos (EIA).

ASTM E673-02a Historia

• 2003 ASTM E673-03 Terminología estándar relacionada con el análisis de superficies
• 2002 ASTM E673-02b Terminología estándar relacionada con el análisis de superficies
• 2002 ASTM E673-02a Terminología estándar relacionada con el análisis de superficies
• 2002 ASTM E673-02 Terminología estándar relacionada con el análisis de superficies
• 2001 ASTM E673-01 Terminología estándar relacionada con el análisis de superficies
• 1998 ASTM E673-98E1 Terminología estándar relacionada con el análisis de superficies