IEC 62024-1:2008/COR1:2008
Componentes inductivos de alta frecuencia. Características eléctricas y métodos de medición. Parte 1: Corrección 1 del inductor de chip de rango de nanohenrios.

Estándar No.

IEC 62024-1:2008/COR1:2008

Fecha de publicación

2008

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC 62024-1:2017

Ultima versión

IEC 62024-1:2017

Alcance

Este es el corrigendum 1 de Componentes inductivos de alta frecuencia - Características eléctricas y métodos de medición - Parte 1: Inductor de chip de rango nanohenrio.

IEC 62024-1:2008/COR1:2008 Historia

• 2017 IEC 62024-1:2017 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características eléctricas y métodos de medición. Parte 1: Inductor de chip de rango nanohenrio.
• 2008 IEC 62024-1:2008/COR1:2008 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características eléctricas y métodos de medición. Parte 1: Corrección 1 del inductor de chip de rango de nanohenrios.
• 2008 IEC 62024-1:2008 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características eléctricas y métodos de medición. Parte 1: Inductor de chip de rango nanohenrio.
• 2002 IEC 62024-1:2002 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características eléctricas y métodos de medición. Parte 1: Inductor de chip de rango nanohenrio.