JIS C 5381-321:2004
Componentes para dispositivos de protección contra sobretensiones de bajo voltaje - Especificaciones para diodos de ruptura de avalanchas (ABD)
- Estándar No.
- JIS C 5381-321:2004
- Fecha de publicación
- 2004
- Organización
- Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
- Ultima versión
- JIS C 5381-321:2004
- Alcance
- Esta norma se aplica a los sistemas de distribución de energía de baja tensión. Esta norma especifica el método de prueba para diodos de ruptura de aberraciones (en adelante, ABD) de elementos de dispositivos de protección contra sobretensiones (en adelante, SPDC) utilizados en el diseño y configuración de dispositivos de protección contra sobretensiones conectados a líneas de transmisión y señal. Las especificaciones de prueba en esta norma son para un solo ABD que consta de dos terminales.
JIS C 5381-321:2004 Historia
- 2004 JIS C 5381-321:2004 Componentes para dispositivos de protección contra sobretensiones de bajo voltaje - Especificaciones para diodos de ruptura de avalanchas (ABD)
Temas especiales sobre estándares y normas
estándares y especificaciones
SANS 61643-321:2004 de ruptura de avalanchas (ABD)
DS/EN 61643-321:2007 para diodos de ruptura de avalanchas (ABD)
GSO IEC 61643-321:2014 para diodos de ruptura de avalanchas (ABD)
KS C IEC 61643-321-A:2014 para diodo de ruptura de avalancha (ABD)
IEC 61643-321:2001 para el diodo de ruptura de avalancha (ABD)
BS EN 61643-321:2002 Dispositivos de protección contra sobretensiones de bajo voltaje: especificaciones para diodos de ruptura de avalanchas (ABD
IEEE C62.35-2010 Métodos de prueba estándar para componentes de dispositivos semiconductores de protección contra sobretensiones de unión de avalancha
KS C IEC 61643-321-A-2015 para diodos de ruptura de avalanchas (ABD)
OS GSO IEC 61643-321:2014 para diodos de ruptura de avalanchas (ABD)