NF B49-424-1*NF EN ISO 21079-1:2008
Análisis químico de refractarios que contienen alúmina, circona y sílice - Refractarios que contienen entre un 5 % y un 45 % de ZrO2 (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos y disolución.