EN 60444-2:1997 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red Pi Parte 2: Método de compensación de fase para medir la capacitancia de movimiento de unidades de cristal de cuarzo
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EN 60444-2:1997
EN 60444-2:1997 Historia
1997EN 60444-2:1997 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red Pi Parte 2: Método de compensación de fase para medir la capacitancia de movimiento de unidades de cristal de cuarzo