EN 60749-8:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 8: Sellado.

Estándar No.
EN 60749-8:2003
Fecha de publicación
2003
Organización
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC)
Ultima versión
EN 60749-8:2003

EN 60749-8:2003 Historia

  • 2003 EN 60749-8:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 8: Sellado.



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