EN 60749-16:2003
Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)

Estándar No.
EN 60749-16:2003
Fecha de publicación
2003
Organización
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC)
Ultima versión
EN 60749-16:2003

EN 60749-16:2003 Historia

  • 2003 EN 60749-16:2003 Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)



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