EN 60749-32:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducida externamente) (Incorpora la Enmienda A1: 2010)

Estándar No.

EN 60749-32:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Ultima versión

EN 60749-32:2003

EN 60749-32:2003 Historia

• 2003 EN 60749-32:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducida externamente) (Incorpora la Enmienda A1: 2010)