EN 14784-2:2005
Ensayos no destructivos. Radiografía industrial computarizada con placas de almacenamiento de imágenes de fósforo. Parte 2: Principios generales para ensayos de materiales metálicos utilizando rayos X y rayos gamma.
- Estándar No.
- EN 14784-2:2005
- Fecha de publicación
- 2005
- Organización
- European Committee for Standardization (CEN)
- Ultima versión
- EN 14784-2:2005
- Alcance
- Esta norma europea especifica técnicas fundamentales de radiografía computarizada con el objetivo de permitir obtener resultados satisfactorios y repetibles de forma económica. Las técnicas se basan en la teoría fundamental de la materia y en las mediciones de pruebas. Este documento especifica las reglas generales para la radiografía X y gamma computarizada industrial con fines de detección de defectos, utilizando placas de almacenamiento de imágenes de fósforo (IP). Se basa en los principios generales para el examen radiográfico de materiales metálicos sobre la base de películas (EN 444 e ISO 5579). La configuración básica de la fuente de radiación, el detector y la geometría correspondiente se aplicarán de acuerdo con
EN 14784-2:2005 Historia
- 2005 EN 14784-2:2005 Ensayos no destructivos. Radiografía industrial computarizada con placas de almacenamiento de imágenes de fósforo. Parte 2: Principios generales para ensayos de materiales metálicos utilizando rayos X y rayos gamma.
