IEC 62433-2:2008 Modelado de circuitos integrados EMC - Parte 2: Modelos de circuitos integrados para simulación del comportamiento de EMI - Modelado de emisiones conducidas (ICEM-CE)
Esta parte de IEC 62433 especifica macromodelos para circuitos integrados para simular emisiones electromagnéticas conducidas en una placa de circuito impreso. El modelo se denomina comúnmente Modelo de Emisión de Circuito Integrado - Emisión Conducida (ICEM-CE). El modelo ICEM-CE también se puede utilizar para modelar un chip IC, un bloque funcional y un bloque de propiedad intelectual (IP). El modelo ICEM-CE se puede utilizar para modelar circuitos integrados tanto digitales como analógicos. Básicamente, las emisiones conducidas tienen dos orígenes: ~ emisiones conducidas a través de terminales de suministro de energía y estructuras de referencia terrestre; ~ emisiones conducidas a través de terminales de entrada/salida (1/O). El modelo ICEM-CE aborda esos dos tipos de orígenes en un solo enfoque. Este estándar define estructuras y componentes del macromodelo para la simulación de EMI teniendo en cuenta las actividades internas del IC. Este estándar proporciona datos generales, que pueden implementarse en diferentes formatos o lenguajes como IBIS, IMIC, SPICE, VHDL-AMS y Verilog. Sin embargo, se elige SPICE como entorno de simulación predeterminado para cubrir todas las emisiones realizadas. Esta norma también especifica los requisitos para la información que se incorporará en cada modelo ICEM-CE o componente del modelo para la circulación del modelo, pero la sintaxis de descripción no está dentro del alcance de esta norma.
IEC 62433-2:2008 Documento de referencia
IEC 61967 Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas - Parte 8: Medición de emisiones radiadas - Método IC stripline*， 2023-05-03 Actualizar
IEC 61967-4 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas. Parte 4: Medición de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo de 1 ohm/150 ohm.*， 2021-03-16 Actualizar
IEC 62433-2:2008 Historia
2017IEC 62433-2:2017 Modelos de circuitos integrados para EMC – Parte 2: Modelos de circuitos integrados para simular el comportamiento durante perturbaciones electromagnéticas – Modelado de emisiones conducidas (ICEM-CE) (Edición 2.0)
2008IEC 62433-2:2008 Modelado de circuitos integrados EMC - Parte 2: Modelos de circuitos integrados para simulación del comportamiento de EMI - Modelado de emisiones conducidas (ICEM-CE)