(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
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JEDEC JEP155-2008
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La intención de este informe es documentar y proporcionar información crítica para evaluar y tomar decisiones sobre los requisitos de nivel de seguridad ESD. El alcance de este documento es proporcionar esta información a organizaciones de calidad tanto en empresas de semiconductores como en sus clientes de circuitos integrados. Notas especiales sobre ESD a nivel de sistema: 1. Este trabajo y las recomendaciones que contiene están destinados a los requisitos de ESD seguros a nivel de componente y tendrán poco o ningún efecto en los resultados de ESD a nivel de sistema. 2. Los sistemas y las placas del sistema deben continuar diseñándose para enfrentar las amenazas de ESD apropiadas, independientemente de los componentes de los sistemas que cumplan con las nuevas recomendaciones de este trabajo, y toda la confiabilidad adecuada del sistema debe evaluarse mediante el método de prueba IEC. Notas especiales sobre el modelo de máquina: 1. El método del modelo de máquina (MM), según lo especificado por algunos clientes y proveedores, no es una metodología preferida por JEDEC para su uso en lugar o además de los protocolos de prueba de HBM y CDM. 2. A diferencia de los probadores HBM, se sabe que los probadores MM tienen grandes variaciones en los resultados de salida y, por lo tanto, pueden proporcionar información relativamente menos precisa de un usuario a otro.
JEDEC JEP155-2008 Historia
2008JEDEC JEP155-2008 Niveles objetivo de ESD recomendados para la calificación HBM/MM