BS EN 62374:2007
Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta

Estándar No.

BS EN 62374:2007

Fecha de publicación

2008

Organización

British Standards Institution (BSI)

Estado

 2008-10

Remplazado por

BS EN 62374:2008

Ultima versión

BS EN 62374:2008

Alcance

Esta norma internacional proporciona un método de prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de compuerta en dispositivos semiconductores y un método de estimación de la vida útil del producto para la falla TDDB.

BS EN 62374:2007 Historia

• 2008 BS EN 62374:2008 Dispositivos semiconductores. Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta
• 2008 BS EN 62374:2007 Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta