EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM) (Incorpora la Enmienda A1: 2012)
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
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