EN 60749-35:2006
Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico

Estándar No.

EN 60749-35:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Ultima versión

EN 60749-35:2006

EN 60749-35:2006 Historia

• 2006 EN 60749-35:2006 Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico