IEC 60668:1980
Dimensiones de las áreas del panel y recortes para instrumentos de control y medición de procesos industriales montados en panel y en bastidor

Estándar No.

IEC 60668:1980

Fecha de publicación

1980

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 60668:1980

Alcance

Esta norma especifica las series de paneles y tamaños de apertura para instrumentos de control y medición de procesos industriales instalados en paneles de instrumentos o marcos de instrumentos.

IEC 60668:1980 Historia

• 1980 IEC 60668:1980 Dimensiones de las áreas del panel y recortes para instrumentos de control y medición de procesos industriales montados en panel y en bastidor