ANSI/IEEE 1620:2008
Norma para métodos de prueba para la caracterización de materiales y transistores orgánicos

Estándar No.

ANSI/IEEE 1620:2008

Fecha de publicación

2008

Organización

American National Standards Institute （ANSI)

Ultima versión

ANSI/IEEE 1620:2008

Alcance

Esta norma describe un método para caracterizar dispositivos electrónicos orgánicos, incluidas técnicas de medición, métodos para informar datos y las condiciones de prueba durante la caracterización.

ANSI/IEEE 1620:2008 Historia

• 2008 ANSI/IEEE 1620:2008 Norma para métodos de prueba para la caracterización de materiales y transistores orgánicos