SANS 61000-4-17:2003
Compatibilidad electromagnética (EMC) Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC

Estándar No.
SANS 61000-4-17:2003
Fecha de publicación
2003
Organización
ZA-SANS
Estado
 2009-03
Remplazado por
SANS 61000-4-17:2009
Ultima versión
SANS 61000-4-17:2009
Alcance
Esta parte de IEC 61000 define métodos de prueba para la inmunidad a la ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC de equipos eléctricos o electrónicos. Esta norma es aplicable a puertos de alimentación de CC de bajo voltaje de equipos alimentados por sistemas electrificadores externos o baterías que se están cargando. El objetivo de esta norma es establecer una base común y reproducible para probar, en un laboratorio, equipos eléctricos y electrónicos cuando se someten a voltajes de ondulación como los generados por sistemas rectificadores y/o cargadores de baterías de servicio auxiliar superpuestos a fuentes de suministro de energía de CC. su estándar define la forma de onda del voltaje de prueba; gama de niveles de prueba; generador de pruebas; configuración de prueba; procedimiento de prueba. La prueba que se describe a continuación se aplica a equipos y sistemas eléctricos o electrónicos. También se aplica a módulos o subsistemas siempre que la potencia nominal del equipo bajo prueba (EUT) sea superior a la capacidad del generador de prueba especificada en la cláusula 6. Esta prueba no se aplica a equipos conectados a sistemas de cargadores de baterías que incorporan convertidores de modo bruja. Esta norma no especifica las pruebas que se aplicarán a aparatos o sistemas particulares. Su objetivo principal es dar una referencia básica general a los comités de productos IEC. Estos comités de productos (o usuarios o fabricantes de equipos) siguen siendo responsables de la elección adecuada de la prueba y el nivel de severidad que se aplicará a sus equipos. se utilizan procedimientos de prueba específicos para probar categorías específicas de equipos eléctricos o electrónicos, por ejemplo, equipos conectados a la red de suministro de CC de centros de conmutación telefónica; Los comités de productos relacionados deben evaluar la relevancia y aplicabilidad del procedimiento de prueba especificado en esta norma básica.

SANS 61000-4-17:2003 Historia

  • 2009 SANS 61000-4-17:2009
  • 2003 SANS 61000-4-17:2003 Compatibilidad electromagnética (EMC) Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC



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