ASTM E722-09e1 Práctica estándar para caracterizar espectros de fluencia de neutrones en términos de una fluencia de neutrones monoenergética equivalente para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
Esta práctica es importante para caracterizar la dureza de la radiación de dispositivos electrónicos irradiados por neutrones. Esta caracterización hace posible predecir algunos cambios en las propiedades operativas de dispositivos semiconductores o sistemas electrónicos irradiados. Para facilitar la uniformidad de la interpretación y evaluación de los resultados de las irradiaciones por fuentes de diferentes espectros de fluencia, es conveniente reducir la fluencia de neutrones incidentes de una fuente a un solo parámetro: una fluencia de neutrones monoenergética equivalente. aplicable a un material semiconductor particular. Para determinar una fluencia de neutrones monoenergética equivalente, es necesario evaluar el daño por desplazamiento del material semiconductor en particular. Idealmente, esta cantidad está correlacionada con la degradación de un parámetro de rendimiento funcional específico (como la ganancia de corriente) del dispositivo o sistema semiconductor que se está probando. Sin embargo, esta correlación no se ha establecido de manera inequívoca para todos los tipos de dispositivos y parámetros de rendimiento ya que, en muchos casos, otros efectos también pueden ser importantes. Los efectos de ionización producidos por la fluencia de neutrones incidentes o por rayos gamma en una fluencia de neutrones mixta, el recocido a corto y largo plazo y otros factores pueden contribuir a la degradación (daños) del rendimiento observado. Por lo tanto, se debe tener precaución al establecer una correlación entre el daño por desplazamiento calculado y la degradación del rendimiento de un dispositivo electrónico determinado. Los tipos de dispositivos para los cuales es aplicable esta correlación y la evaluación numérica del daño por desplazamiento se analizan en los anexos. El concepto de fluencia equivalente a 1 MeV se utiliza ampliamente en la comunidad de pruebas de dureza de la radiación. Tiene ventajas y desventajas que han sido ampliamente debatidas (9-12). Por estas razones, en los anexos se presentan detalles de una aplicación estándar de la fluencia equivalente de 1 MeV. 1.1 Esta práctica cubre procedimientos para caracterizar la fluencia de neutrones de una fuente en términos de una fluencia de neutrones monoenergética equivalente. Es aplicable a las pruebas de efectos de neutrones, al desarrollo de especificaciones de prueba y a la caracterización de entornos de prueba de neutrones. Las fuentes pueden tener un amplio rango de energía de neutrones o pueden ser fuentes de neutrones monoenergéticas con energías de hasta 20 MeV. Esta práctica no es aplicable en los casos en que la fuente predominante de daño por desplazamiento provenga de neutrones de energía inferior a 10 keV. La equivalencia relevante es en términos de un efecto específico sobre ciertas propiedades físicas de los materiales sobre los cuales incide el espectro fuente. Para lograr esto, se requiere conocimiento de los efectos de los neutrones en función de la energía sobre la propiedad específica del material de interés. Las variaciones pronunciadas en los efectos de la energía de neutrones pueden limitar la utilidad de esta práctica en el caso de fuentes monoenergéticas. 1.2 Esta práctica se presenta de manera que sea de aplicación general a una variedad de materiales y fuentes. La correlación entre los desplazamientos (1-3) causados por diferentes partículas (electrones, neutrones, protones e iones pesados) está fuera del alcance de esta práctica. En las pruebas de dureza por radiación de dispositivos semiconductores electrónicos, los materiales específicos de interés incluyen el silicio y el arseniuro de galio, y las fuentes de neutrones generalmente son reactores de prueba e investigación e irradiadores de californio-252. 1.3 La técnica involucrada se basa en los siguientes factores: (1) una determinación detallada del espectro de fluencia de la fuente de neutrones, y (2) un conocimiento de los efectos de degradación (daño) de los neutrones en función de la energía sobre propiedades específicas del material. 1.4 La determinación detallada de t......
ASTM E722-09e1 Historia
2019ASTM E722-19 Práctica estándar para caracterizar espectros de fluencia de neutrones en términos de una fluencia de neutrones monoenergética equivalente para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
2014ASTM E722-14 Práctica estándar para caracterizar espectros de fluencia de neutrones en términos de una fluencia de neutrones monoenergética equivalente para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
2009ASTM E722-09e1 Práctica estándar para caracterizar espectros de fluencia de neutrones en términos de una fluencia de neutrones monoenergética equivalente para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
2009ASTM E722-09 Práctica estándar para caracterizar espectros de fluencia de neutrones en términos de una fluencia de neutrones monoenergética equivalente para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
2004ASTM E722-04e2 Práctica estándar para caracterizar espectros de fluencia de energía de neutrones en términos de una fluencia de neutrones monoenergética equivalente para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
2004ASTM E722-04e1 Práctica estándar para caracterizar espectros de fluencia de energía de neutrones en términos de una fluencia de neutrones monoenergética equivalente para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
2004ASTM E722-04 Práctica estándar para caracterizar espectros de fluencia de energía de neutrones en términos de una fluencia de neutrones monoenergética equivalente para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
1994ASTM E722-94(2002) Práctica estándar para caracterizar espectros de fluencia de energía de neutrones en términos de una fluencia de neutrones monoenergética equivalente para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos