DIN EN 60749-33:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 33: Resistencia a la humedad acelerada. Autoclave imparcial (IEC 60749-33:2004); Versión alemana EN 60749-33:2004
La prueba de autoclave imparcial se realiza para evaluar la integridad de la resistencia a la humedad de dispositivos de estado sólido empaquetados no herméticos que utilizan entornos de condensación de humedad o vapor saturado de humedad.
DIN EN 60749-33:2004 Historia
2004DIN EN 60749-33:2004-09 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 33: Resistencia a la humedad acelerada. Autoclave imparcial (IEC 60749-33:2004); Versión alemana EN 60749-33:2004
2004DIN EN 60749-33:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 33: Resistencia a la humedad acelerada. Autoclave imparcial (IEC 60749-33:2004); Versión alemana EN 60749-33:2004