SJ/T 11399-2009
Métodos de medición para chips de diodos emisores de luz. (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 11399-2009

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2009

Organización

Professional Standard - Electron

Ultima versión

SJ/T 11399-2009

Alcance

Esta norma especifica los métodos de prueba para parámetros radiométricos, fotométricos, colorimétricos, eléctricos, térmicos y compatibilidad electromagnética de chips de diodos emisores de luz semiconductores. Esta norma se aplica a los chips de diodos emisores de luz semiconductores de luz visible. La prueba de chips de diodos emisores de luz ultravioleta e infrarroja y obleas epitaxiales se puede realizar como referencia.

SJ/T 11399-2009 Documento de referencia

• GB/T 11499-2001 Símbolos de letras para dispositivos semiconductores discretos
• GB/T 15651-1995 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 5: Dispositivos optoelectrónicos
• GB/T 5698-2001 Glosario de términos de color
• SJ/T 11394-2009 Métodos de medición de diodos emisores de luz semiconductores.

SJ/T 11399-2009 Historia

• 2009 SJ/T 11399-2009 Métodos de medición para chips de diodos emisores de luz.