SJ/T 11404-2009
Especificaciones generales para dispositivos ópticos integrados en LiNbO (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 11404-2009

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2009

Organización

Professional Standard - Electron

Ultima versión

SJ/T 11404-2009

Alcance

Esta especificación especifica el contenido de los procedimientos de evaluación de calidad, requisitos de inspección, cribado, requisitos de muestreo, métodos de prueba y medición necesarios para los dispositivos ópticos integrados de niobato de litio. Esta especificación se aplica a moduladores de intensidad, moduladores de fase, interruptores ópticos y moduladores de fase de guía de onda Y para giroscopios de fibra óptica fabricados con materiales de niobato de litio. Los dispositivos ópticos integrados con funciones similares fabricados con materiales de tantalato de litio pueden referirse a su implementación.

SJ/T 11404-2009 Documento de referencia

• GB/T 18310.4-2001 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 2-4: Pruebas. Retención de fibra/cable.
• GB/T 191-2008 Embalaje. Marcado pictórico para manipulación de mercancías.
• GB/T 2421-1999 
• GB/T 2423.1-2001 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos Parte 2: Métodos de prueba Pruebas A: Frío
• GB/T 2423.10-2008 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2: Métodos de prueba Prueba Fc: Vibración (sinusoidal)
• GB/T 2423.11-1997 Ensayos ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2: Métodos de prueba. Prueba Fd: Banda ancha de vibración aleatoria - Requisitos generales
• GB/T 2423.2-2008 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos.Parte 2:Métodos de prueba.Pruebas B:Calor seco
• GB/T 2423.22-2002 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2: Métodos de prueba Prueba N: Cambio de temperatura
• GB/T 2423.28-2005 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos.Parte 2: Métodos de prueba-Prueba T: Soldadura
• GB/T 2423.5-1995 Ensayos ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2: Métodos de prueba. Prueba Ea y orientación: Choque
• GB/T 2828.1-2003 Procedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 1: Esquemas de muestreo indexados por límite de calidad de aceptación (AQL) para inspección lote por lote.
• GJB 128A-1997 Métodos de prueba de dispositivos semiconductores discretos
• GJB 4026-2000 Especificaciones generales para dispositivos ópticos integrados de niobato de litio.
• SJ 20869-2003 Métodos de medición para moduladores ópticos de onda guiada integrados LiNbO3

SJ/T 11404-2009 Historia

• 2009 SJ/T 11404-2009 Especificaciones generales para dispositivos ópticos integrados en LiNbO