IEC 62132-2:2010
Circuitos integrados - Medición de la inmunidad electromagnética - Parte 2: Medición de la inmunidad radiada - Método de celda TEM y celda TEM de banda ancha

Estándar No.

IEC 62132-2:2010

Fecha de publicación

2010

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 62132-2:2010

Reemplazar

IEC 47A/838/FDIS:2010

Alcance

Esta norma internacional especifica un método para medir la inmunidad de un circuito integrado (CI) a perturbaciones electromagnéticas radiadas por radiofrecuencia (RF). El rango de frecuencia de este método es de 150 kHz a 1 GHz, o según lo limite las características de la celda TEM.

IEC 62132-2:2010 Documento de referencia

• IEC 60050-131:2002 Vocabulario electrotécnico internacional - Parte 131: Teoría de circuitos
• IEC 60050-161:1990 Vocabulario electrotécnico internacional; capítulo 161: compatibilidad electromagnética
• IEC 61967-2 Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz - Parte 2: Medición de emisiones radiadas - Método de celda TEM y celda TEM de banda ancha
• IEC 62132-1:2006 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética, de 150 kHz a 1 GHz. Parte 1: Condiciones generales y definiciones.

IEC 62132-2:2010 Historia

• 2010 IEC 62132-2:2010 Circuitos integrados - Medición de la inmunidad electromagnética - Parte 2: Medición de la inmunidad radiada - Método de celda TEM y celda TEM de banda ancha

estándares y especificaciones