IEC 62132-2:2010
Circuitos integrados - Medición de la inmunidad electromagnética - Parte 2: Medición de la inmunidad radiada - Método de celda TEM y celda TEM de banda ancha
- Estándar No.
- IEC 62132-2:2010
- Fecha de publicación
- 2010
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 62132-2:2010
- Reemplazar
- IEC 47A/838/FDIS:2010
- Alcance
- Esta norma internacional especifica un método para medir la inmunidad de un circuito integrado (CI) a perturbaciones electromagnéticas radiadas por radiofrecuencia (RF). El rango de frecuencia de este método es de 150 kHz a 1 GHz, o según lo limite las características de la celda TEM.
IEC 62132-2:2010 Documento de referencia
- IEC 60050-131:2002 Vocabulario electrotécnico internacional - Parte 131: Teoría de circuitos
- IEC 60050-161:1990 Vocabulario electrotécnico internacional; capítulo 161: compatibilidad electromagnética
- IEC 61967-2 Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz - Parte 2: Medición de emisiones radiadas - Método de celda TEM y celda TEM de banda ancha
- IEC 62132-1:2006 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética, de 150 kHz a 1 GHz. Parte 1: Condiciones generales y definiciones.
IEC 62132-2:2010 Historia
- 2010 IEC 62132-2:2010 Circuitos integrados - Medición de la inmunidad electromagnética - Parte 2: Medición de la inmunidad radiada - Método de celda TEM y celda TEM de banda ancha
