JIS C 5005-2:2010 Sistemas de evaluación de la calidad - Parte 2: Selección y uso de planes de muestreo para la inspección de componentes y paquetes electrónicos
JIS Z 8101-2 Estadística - Vocabulario y símbolos - Parte 2: Estadística aplicada*, 2015-10-20 Actualizar
JIS Z 9015-1:2006 Procedimientos de muestreo para la inspección por atributos - Parte 1: Esquemas de muestreo indexados por el límite de calidad de aceptación (AQL) para la inspección lote por lote
JIS C 5005-2:2010 Historia
2010JIS C 5005-2:2010 Sistemas de evaluación de la calidad - Parte 2: Selección y uso de planes de muestreo para la inspección de componentes y paquetes electrónicos