GB/T 4326-1984
Monocristales semiconductores extrínsecos: medición de la movilidad de Hall y del coeficiente de Hall (Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 4326-1984
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1984
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Estado
- 2006-11
- Remplazado por
- GB/T 4326-2006
- Ultima versión
- GB/T 4326-2006
- Alcance
- Esta norma se aplica a la determinación de la movilidad Hall del portador en muestras monocristalinas de semiconductores extrínsecos. Se deben medir la resistividad y el coeficiente de Hall para obtener la movilidad Hall, por lo que esta norma también se aplica a la medición de estos parámetros respectivamente.
GB/T 4326-1984 Historia
- 2006 GB/T 4326-2006 Medición de monocristales semiconductores extrínsecos de movilidad Hall y coeficiente Hall
- 1984 GB/T 4326-1984 Monocristales semiconductores extrínsecos: medición de la movilidad de Hall y del coeficiente de Hall
