IEC 61967-1-1:2010
Circuitos integrados – Medición de emisiones electromagnéticas – Parte 1-1: Condiciones generales y definiciones – Formato de intercambio de datos de escaneo de campo cercano

Estándar No.
IEC 61967-1-1:2010
Fecha de publicación
2010
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Ultima versión
IEC 61967-1-1:2010
Alcance
Esta parte de IEC 61967 proporciona orientación para el intercambio de datos generados por mediciones de escaneo de campo cercano. El formato de intercambio descrito también podría usarse para datos de escaneo de campo cercano generados por software de simulación. Cabe señalar que, aunque ha sido desarrollado para escaneo de campo cercano, su uso no se limita a esta aplicación. El formato de intercambio se puede aplicar a datos de escaneo de campo cercano de emisión, inmunidad e inmunidad a impulsos en los dominios de frecuencia y tiempo. El alcance de este informe técnico no incluye los métodos utilizados para las mediciones o simulaciones, ni el software y algoritmos utilizados para generar el archivo de intercambio o para procesar o visualizar los datos contenidos en el mismo.

IEC 61967-1-1:2010 Documento de referencia

  • ISO 8879 Procesamiento de información - Sistemas de texto y ofimáticos - Lenguaje de marcado generalizado estándar (SGML); Corrigendum técnico 2

IEC 61967-1-1:2010 Historia

  • 2010 IEC 61967-1-1:2010 Circuitos integrados – Medición de emisiones electromagnéticas – Parte 1-1: Condiciones generales y definiciones – Formato de intercambio de datos de escaneo de campo cercano



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