IEC 62226-2-1:2004
Exposición a campos eléctricos o magnéticos en el rango de frecuencia baja e intermedia - Métodos para calcular la densidad de corriente y el campo eléctrico interno inducido en el cuerpo humano - Parte 2-1: Exposición a campos magnéticos - Modelos 2D
- Estándar No.
- IEC 62226-2-1:2004
- Fecha de publicación
- 2004
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 62226-2-1:2004
- Reemplazar
- IEC 106/79/FDIS:2004
- Alcance
- Esta parte de IEC 62226 introduce el factor de acoplamiento K, para permitir la evaluación de la exposición en situaciones de exposición complejas, como campos magnéticos no uniformes o campos eléctricos perturbados. El factor de acoplamiento K tiene diferentes interpretaciones físicas dependiendo
IEC 62226-2-1:2004 Historia
- 2004 IEC 62226-2-1:2004 Exposición a campos eléctricos o magnéticos en el rango de frecuencia baja e intermedia - Métodos para calcular la densidad de corriente y el campo eléctrico interno inducido en el cuerpo humano - Parte 2-1: Exposición a campos magnéticos - Modelos 2D
