NF X35-012:2010
Metodologías de escaneo 3-D para bases de datos antropométricas compatibles internacionalmente.

Estándar No.
NF X35-012:2010
Fecha de publicación
2010
Organización
Association Francaise de Normalisation
Estado
 2017-06
Remplazado por
NF X35-012-2*NF EN ISO 20685-2:2017
Ultima versión
NF X35-012-2*NF EN ISO 20685-2:2023
Reemplazar
NF X35-012:2006
 

Introducción
Este documento describe los métodos para la adquisición de datos de escaneo tridimensional en la creación de bases de datos antropométricas utilizadas para comparaciones internacionales. Se enfoca en las técnicas y procedimientos necesarios para garantizar la precisión y la consistencia de los datos obtenidos. El contenido aborda aspectos relacionados con el equipo utilizado, las condiciones de medición, la preparación del sujeto y el procesamiento de los datos. Este documento se orienta a profesionales involucrados en la recopilación y análisis de información antropométrica, proporcionando una guía detallada para la realización de escaneos tridimensionales de alta calidad. Incluye recomendaciones sobre la calibración de los dispositivos, la gestión de los errores y la representación de los resultados en formatos estándar. Su objetivo es facilitar la comparación de datos entre diferentes estudios y países, asegurando la interoperabilidad y la fiabilidad de la información antropométrica generada.

NF X35-012:2010 Historia

  • 2023 NF X35-012-2*NF EN ISO 20685-2:2023 Ergonomía - Metodologías de escaneo 3D para bases de datos antropométricas compatibles a nivel internacional - Parte 2: Protocolo de evaluación de la forma de la superficie y repetibilidad de posiciones relativas de puntos de referencia
  • 2018 NF X35-012-1*NF EN ISO 20685-1:2018 Metodologías de escaneo 3-D para bases de datos antropométricas compatibles internacionalmente - Parte 1: protocolo de evaluación de las dimensiones corporales extraídas de escaneos corporales 3-D
  • 2017 NF X35-012-2*NF EN ISO 20685-2:2017 Ergonomía - Metodologías de escaneo 3-D para bases de datos antropométricas compatibles internacionalmente - Parte 2: protocolo de evaluación de la forma de la superficie y repetibilidad de las posiciones relativas de los puntos de referencia
  • 2010 NF X35-012:2010 Metodologías de escaneo 3-D para bases de datos antropométricas compatibles internacionalmente.
  • 0000 NF X35-012:2006

Temas especiales sobre estándares y normas

estándares y especificaciones




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